管狀熔斷體耐焊接熱檢測(cè)
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發(fā)布時(shí)間:2025-11-19 16:37:26 更新時(shí)間:2025-11-18 16:38:55
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
管狀熔斷體作為電路保護(hù)的重要元件,其性能穩(wěn)定性直接關(guān)系到電子設(shè)備的安全運(yùn)行。在焊接工藝中,熔斷體需要承受高溫環(huán)境,若耐焊接熱性能不足,可能導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)損傷、電氣特性變化甚至早期失效。因此,耐焊接熱檢測(cè)成為" />
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
管狀熔斷體耐焊接熱檢測(cè)技術(shù)研究
管狀熔斷體作為電路保護(hù)的核心元件,其可靠性直接關(guān)系到整個(gè)電氣系統(tǒng)的安全。在制造過程中,熔斷體需經(jīng)歷焊接(如波峰焊、回流焊)工藝以接入電路板,此過程所承受的熱應(yīng)力可能對(duì)其結(jié)構(gòu)完整性、電氣性能及保護(hù)特性造成不可逆的影響。耐焊接熱檢測(cè)即是模擬這一工藝過程,檢驗(yàn)熔斷體承受焊接熱沖擊能力的關(guān)鍵試驗(yàn)項(xiàng)目。該檢測(cè)旨在驗(yàn)證熔斷體在經(jīng)歷短暫高溫后,其外觀、機(jī)械及電氣性能是否仍能滿足規(guī)范要求,是評(píng)估其工藝適應(yīng)性與長(zhǎng)期可靠性的重要依據(jù)。
一、 檢測(cè)項(xiàng)目
耐焊接熱檢測(cè)并非單一測(cè)試,而是一個(gè)包含多項(xiàng)具體評(píng)價(jià)指標(biāo)的綜合測(cè)試流程,主要涵蓋以下項(xiàng)目:
預(yù)處理: 將樣品在規(guī)定的環(huán)境條件下(如溫度25±5℃,相對(duì)濕度45%~75%)進(jìn)行狀態(tài)調(diào)節(jié),確保測(cè)試起點(diǎn)的一致性。
焊接熱暴露: 此為檢測(cè)核心。樣品被浸入特定溫度的熔融焊錫槽中,其浸入深度、持續(xù)時(shí)間及焊錫溫度均需嚴(yán)格遵循標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。例如,一種常見條件是浸入260±5℃的焊錫中,持續(xù)10±1秒。此過程模擬了焊接時(shí)最嚴(yán)酷的熱沖擊環(huán)境。
外觀檢查: 熱暴露后,在標(biāo)準(zhǔn)照明條件下,使用放大鏡或體視顯微鏡對(duì)熔斷體進(jìn)行目視檢查。重點(diǎn)評(píng)估:
絕緣體: 是否存在開裂、起泡、腫脹、變形或失去光澤等缺陷。
端帽: 是否有氧化加劇、鍍層起皮或脫落現(xiàn)象。
標(biāo)志: 是否保持清晰、牢固,無模糊或脫落。
整體結(jié)構(gòu): 是否存在任何可見的機(jī)械損傷。
電阻測(cè)量: 在熱暴露前后,使用低電阻測(cè)量?jī)x或微歐計(jì)測(cè)量熔斷體的整體電阻。電阻值的穩(wěn)定性至關(guān)重要,其變化率(ΔR)不應(yīng)超過標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值(例如,不超過初始值的±10%或具體mΩ值)。顯著的電阻增大可能意味著內(nèi)部連接劣化或端帽與熔體接觸不良。
電壓降測(cè)量: 在規(guī)定的直流測(cè)試電流下,測(cè)量熔斷體兩端的電壓降。此項(xiàng)目與電阻測(cè)量相輔相成,用于間接評(píng)估熔斷體導(dǎo)電回路的完整性。耐焊接熱試驗(yàn)后,電壓降的變化應(yīng)在允許范圍內(nèi)。
驗(yàn)證電流試驗(yàn): 對(duì)熔斷體施加其額定電流,持續(xù)一段時(shí)間,監(jiān)測(cè)其溫升或通斷狀態(tài)。目的在于驗(yàn)證經(jīng)歷熱沖擊后,熔斷體在正常負(fù)載下仍能穩(wěn)定工作而不發(fā)生異常斷開或過熱。
過載或分?jǐn)嗄芰︱?yàn)證(可選或特定要求): 對(duì)于有更高要求的應(yīng)用,可能需在耐焊接熱測(cè)試后,進(jìn)行時(shí)間-電流特性測(cè)試或額定分?jǐn)嗄芰y(cè)試,以評(píng)估其保護(hù)性能是否因焊接熱而劣化。
二、 檢測(cè)范圍
本檢測(cè)方法主要適用于各類采用管狀封裝形式的熔斷體,具體包括:
按尺寸劃分: 微型熔斷體(如Φ5×20mm, Φ6.3×32mm)、Sub-Miniature熔斷體、小型管狀熔斷體等。
按填充材料劃分: 填沙型熔斷體、無填料(空管)熔斷體。
按應(yīng)用領(lǐng)域劃分: 電子設(shè)備用熔斷體、電信設(shè)備用熔斷體、汽車電子用熔斷體(需考慮其特殊的工藝要求)。
類似或相關(guān)樣品:
帶有引腳的軸向/徑向安裝熔斷體。
表面貼裝(SMD)熔斷體,但其測(cè)試條件(如回流焊溫度曲線模擬)可能與通孔安裝熔斷體有所不同。
其他需要在印制電路板(PCB)上經(jīng)歷焊接工藝的類似過流保護(hù)元件。
三、 標(biāo)準(zhǔn)方法
為確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性、可比性與權(quán)威性,試驗(yàn)須嚴(yán)格遵循國(guó)內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。主要標(biāo)準(zhǔn)包括:
國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn): IEC 60127-1《微型熔斷體 第1部分:微型熔斷體的定義和微型熔斷體通用要求》及其后續(xù)部分,對(duì)微型熔斷體的耐焊接熱測(cè)試有明確規(guī)定。
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn): GB/T 9364.1(等同采用IEC 60127-1)《小型熔斷器 第1部分:小型熔斷器定義和小型熔斷體通用要求》。該系列標(biāo)準(zhǔn)是國(guó)內(nèi)進(jìn)行此項(xiàng)檢測(cè)的主要依據(jù)。
其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn): UL 248-14(美國(guó)保險(xiǎn)商實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn))、JIS C6575(日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn))等區(qū)域性標(biāo)準(zhǔn)也包含了針對(duì)特定類型熔斷體的耐熱性要求,其測(cè)試參數(shù)可能略有差異。
在具體操作中,應(yīng)優(yōu)先依據(jù)產(chǎn)品聲稱遵循的標(biāo)準(zhǔn),并明確標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的試驗(yàn)等級(jí)(如焊錫槽溫度、浸入時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù))。
四、 檢測(cè)儀器
完成耐焊接熱檢測(cè)需要一系列專用且精確的儀器設(shè)備:
可調(diào)溫焊錫槽: 核心設(shè)備。必須具備精確的溫度控制系統(tǒng),能夠?qū)⒑稿a溫度穩(wěn)定在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的范圍內(nèi)(例如,250℃至350℃可調(diào),控制精度±2℃)。槽體容量需足夠大,以確保浸入樣品后溫度波動(dòng)最小。通常配備抗氧化裝置以維持焊錫純度。
精密計(jì)時(shí)器: 用于精確控制樣品浸入焊錫的持續(xù)時(shí)間,精度應(yīng)達(dá)到±0.1秒。
樣品夾具: 由耐高溫且不損傷樣品的材料(如不銹鋼、特氟龍)制成,能夠以標(biāo)準(zhǔn)要求的方式和角度夾持熔斷體,并確保浸入深度一致且可重復(fù)。
低電阻測(cè)試儀/微歐計(jì): 用于測(cè)量熔斷體毫歐姆(mΩ)級(jí)別的電阻。該設(shè)備應(yīng)具備四線制測(cè)量能力以消除引線電阻影響,并具有高精度和穩(wěn)定性。
直流穩(wěn)壓電源與數(shù)字萬用表: 用于進(jìn)行驗(yàn)證電流試驗(yàn)和電壓降測(cè)量,需能提供穩(wěn)定且精確的電流輸出,并高精度測(cè)量電壓。
外觀檢查設(shè)備: 包括標(biāo)準(zhǔn)光照箱(提供均勻、無眩光的照明條件)和體視顯微鏡(通常放大倍數(shù)10x至40x),用于細(xì)致觀察樣品表面的微觀缺陷。
環(huán)境試驗(yàn)箱(可選): 用于測(cè)試前的樣品狀態(tài)調(diào)節(jié),確保溫濕度條件符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
綜上所述,管狀熔斷體的耐焊接熱檢測(cè)是一個(gè)系統(tǒng)性的質(zhì)量驗(yàn)證過程,通過模擬實(shí)際焊接工況,并運(yùn)用專業(yè)的設(shè)備與方法,對(duì)熔斷體的物理穩(wěn)定性和電氣可靠性進(jìn)行全面考核。嚴(yán)格執(zhí)行此項(xiàng)檢測(cè),對(duì)于篩選合格供應(yīng)商、提升產(chǎn)品良率、保障終端設(shè)備安全運(yùn)行具有不可替代的重要意義。
證書編號(hào):241520345370
證書編號(hào):CNAS L22006
證書編號(hào):ISO9001-2024001

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