光學(xué)中心差檢測(cè)是光學(xué)成像器件質(zhì)量評(píng)估中的核心環(huán)節(jié),它專門用于測(cè)量透鏡、鏡片或其他光學(xué)元件的光學(xué)中心與其幾何中心之間的位置偏差(簡稱中心差)。光學(xué)中心是指透鏡的理想成像點(diǎn),而幾何中心則是其物" />

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