跌落試驗(yàn)(單體)檢測概述
跌落試驗(yàn)(單體)檢測是產(chǎn)品可靠性測試中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要針對(duì)電池單體、電子元器件或小型獨(dú)立包裝產(chǎn)品,模擬其在運(yùn)輸、搬運(yùn)或使用過程中意外摔落時(shí)的抗沖擊能力。該測試通過精確控制跌落高度" />

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