您現(xiàn)在的位置：首頁 > 檢測項目 > 其他檢測

光照和高溫引起的降解（LETID）檢測

1對1客服專屬服務(wù)，免費(fèi)制定檢測方案，15分鐘極速響應(yīng)

可選形式：電子報告紙質(zhì)報告

可選語言：中文報告英文報告

發(fā)布時間：2025-07-23 13:56:26 更新時間：2025-07-22 13:56:26

點擊：0

作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

光照和高溫引起的降解（LETID）檢測概述

光照和高溫引起的降解（Light and Elevated Temperature Induced Degradation, LETID）是一種在光伏（太陽能）組件中常見的性能退化現(xiàn)象，尤其影響晶體硅太陽能電池。當(dāng)太陽能電池長時間暴露在高強(qiáng)度光照（如太陽輻射）和高溫環(huán)境（通常高于60°C）下時，電池內(nèi)部的缺陷會被激活，導(dǎo)致載流子復(fù)合率增加，從而顯著降低電池的電力輸出效率、開路電壓和整體性能。這種現(xiàn)象不僅影響單個電池單元，還會導(dǎo)致整個光伏系統(tǒng)的功率損失，降低其經(jīng)濟(jì)性和可靠性。在全球光伏產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展的背景下，LETID檢測對于確保組件的長期穩(wěn)定性、延長使用壽命和降低成本至關(guān)重要。通過系統(tǒng)化的檢測，可以識別并緩解潛在退化風(fēng)險，提高太陽能技術(shù)的市場競爭力。

檢測項目

在LETID檢測中，核心項目聚焦于電性能和材料特性的變化。關(guān)鍵項目包括：電性能參數(shù)（如最大功率點Pmax、開路電壓Voc、短路電流Isc、填充因子FF和效率η的退化率）；IV曲線特性（分析電流-電壓關(guān)系的偏移）；量子效率（QE）譜的變化（評估不同波長光照下的響應(yīng)能力）；以及視覺或微觀檢查（如電致發(fā)光EL成像，用于可視化電池內(nèi)部的缺陷分布）。這些項目共同評估LETID對光伏組件性能的量化影響，確保早期識別退化風(fēng)險。

檢測儀器

LETID檢測依賴專業(yè)儀器模擬真實環(huán)境并采集數(shù)據(jù)。主要儀器包括：太陽模擬器（提供標(biāo)準(zhǔn)AM1.5光譜，光照強(qiáng)度1000 W/m2，以模擬自然太陽光）；恒溫箱或環(huán)境艙（精確控制溫度，范圍通常在50°C至85°C，用于模擬高溫條件）；IV測試系統(tǒng)（包含源表和軟件，用于測量電性能參數(shù)）；數(shù)據(jù)采集設(shè)備（如溫度傳感器、光照計和記錄器，實時監(jiān)控測試環(huán)境）。輔助設(shè)備如光譜儀（分析量子效率）和EL相機(jī)（捕捉缺陷圖像）也常被使用。這些儀器確保測試的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

檢測方法

LETID檢測采用標(biāo)準(zhǔn)化加速老化方法，模擬長期暴露效果。核心方法包括：首先，將樣品置于太陽模擬器和恒溫箱中，在恒定光照（1000 W/m2）和高溫（例如85°C）下進(jìn)行加速老化測試，持續(xù)數(shù)百至數(shù)千小時；期間定期中斷測試（如每24小時），將樣品冷卻至室溫后，使用IV測試系統(tǒng)測量電性能變化；同時，通過QE和EL成像分析材料退化；最后，計算性能損失率（如Pmax的相對下降百分比）。該方法根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計，確保快速且可靠的評估。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

LETID檢測嚴(yán)格遵循國際和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以保證結(jié)果一致性和可比性。主要標(biāo)準(zhǔn)包括：IEC TS 62804-1（專門針對光照和溫度誘導(dǎo)退化的測試方法，定義光照、溫度條件和測試流程）；IEC 61215（地面用晶體硅光伏組件設(shè)計鑒定和定型，附錄中納入LETID測試要求）；以及ASTM E1036（標(biāo)準(zhǔn)測試方法，涵蓋性能變化測量）。這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測試環(huán)境（如溫度公差±2°C）、采樣頻率（如每小時記錄一次）、數(shù)據(jù)分析和報告格式（需包含退化曲線和置信區(qū)間）。遵守這些標(biāo)準(zhǔn)是產(chǎn)品認(rèn)證和市場準(zhǔn)入的關(guān)鍵。