超細粒度檢測
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發(fā)布時間:2025-03-07 14:48:34 更新時間:2025-03-06 14:50:00
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作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
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超細粒度檢測(通常指亞微米至納米級顆粒的尺寸分析)是材料科學、制藥、化工等領域的核心技術,直接影響產品性能與工藝優(yōu)化。本文系統(tǒng)解析超細顆粒檢測的五大類方法,結合ISO、ASTM標準及實際案例,提供從原理到實操的全流程指南。
| 方法 | 檢測范圍 | 分辨率 | 適用場景 | 國際標準 |
|---|---|---|---|---|
| 動態(tài)光散射(DLS) | 1nm~10μm | ±2% | 納米分散液(如脂質體、量子點) | ISO 22412 / ASTM E2490 |
| 激光衍射(LD) | 10nm~2000μm | ±1% | 干/濕粉體(如陶瓷粉末、藥物顆粒) | ISO 13320 |
| 電子顯微鏡(SEM/TEM) | 1nm~100μm | 0.1nm(TEM) | 顆粒形貌與元素分析 | ASTM E2524 |
| 納米顆粒追蹤分析(NTA) | 10nm~2000nm | 單顆粒追蹤 | 生物樣本(外泌體、病毒) | ISO 19430 |
| X射線小角散射(SAXS) | 1nm~100nm | 統(tǒng)計平均 | 膠體、高分子自組裝結構 | ISO 17867 |
通過精準的超細粒度檢測,可優(yōu)化材料性能并提升產品競爭力。建議依據(jù)《納米顆粒表征技術指南》(ISO/TS 21358)建立質控體系,并通過ISO 17025認證實驗室確保數(shù)據(jù)可靠性。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001

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