熱循環(huán)老煉檢測是電子元器件、集成電路、功率模塊、LED器件以及各類封裝器件在研發(fā)、生產及質量控制過程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。其核心目標是通過模擬器件在實際工作" />

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