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常溫老煉檢測

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發(fā)布時間：2025-08-16 16:15:55 更新時間：2025-08-15 16:15:55

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作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

常溫老煉檢測概述

常溫老煉檢測是一種在常溫環(huán)境下對電子元器件、電子產(chǎn)品或電氣設(shè)備進(jìn)行長時間通電運(yùn)行的可靠性測試方法，旨在通過模擬實(shí)際使用過程中的熱應(yīng)力與電應(yīng)力，提前發(fā)現(xiàn)潛在的早期失效問題。該檢測廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、電源模塊、繼電器、電容器、電阻器、集成電路等電子元器件的生產(chǎn)質(zhì)量控制環(huán)節(jié)，是確保產(chǎn)品在長期服役中具備穩(wěn)定性和高可靠性的關(guān)鍵步驟。常溫老煉檢測通常在室溫（20℃～25℃）條件下進(jìn)行，持續(xù)時間從數(shù)小時到數(shù)百小時不等，具體時長根據(jù)產(chǎn)品類型、應(yīng)用環(huán)境及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)而定。通過這一過程，可以有效剔除“軟缺陷”（如接觸不良、微裂紋、材料缺陷等）以及因制造工藝不完善導(dǎo)致的早期失效隱患，從而大幅提高產(chǎn)品的整體可靠性與使用壽命。由于其無需高溫加熱設(shè)備，檢測成本較低且操作安全，因此在批量生產(chǎn)、研發(fā)驗(yàn)證及質(zhì)量抽檢中被廣泛采用。

常溫老煉檢測項(xiàng)目

常溫老煉檢測的核心項(xiàng)目包括但不限于以下幾項(xiàng)：工作電壓下的電流穩(wěn)定性檢測、絕緣電阻測試、漏電流監(jiān)測、信號完整性分析、溫度變化下的工作狀態(tài)記錄、功能完整性驗(yàn)證、引腳接觸電阻測定等。這些項(xiàng)目共同構(gòu)成對產(chǎn)品在穩(wěn)定工作狀態(tài)下長期性能表現(xiàn)的全面評估。例如，對電源模塊進(jìn)行常溫老煉時，需持續(xù)施加額定電壓并記錄輸出電壓波動、負(fù)載調(diào)整率變化以及紋波噪聲水平；對于集成電路，則需在運(yùn)行狀態(tài)下測試邏輯功能是否穩(wěn)定、是否存在誤觸發(fā)或數(shù)據(jù)丟失等現(xiàn)象。

常溫老煉檢測儀器

實(shí)現(xiàn)常溫老煉檢測需要一系列高精度、高穩(wěn)定性的測試設(shè)備，主要包括：可編程直流電源（用于提供穩(wěn)定的輸入電壓和電流）、數(shù)字萬用表（實(shí)時監(jiān)測電壓、電流、電阻等參數(shù)）、高精度示波器（分析信號波形與噪聲特性）、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（自動記錄各項(xiàng)參數(shù)隨時間變化趨勢）、老化測試架（支持多通道并行老化，具備自動開關(guān)機(jī)與故障報警功能）以及環(huán)境溫濕度監(jiān)控儀（確保檢測環(huán)境穩(wěn)定）。部分高級系統(tǒng)還集成自動化測試軟件，可實(shí)現(xiàn)無人值守運(yùn)行、異常自動停機(jī)、數(shù)據(jù)自動與分析等功能，極大提升了檢測效率與數(shù)據(jù)可靠性。

常溫老煉檢測方法

常溫老煉檢測通常遵循以下標(biāo)準(zhǔn)流程：首先，根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格書和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定老煉電壓、電流、時間等參數(shù)；其次，將待測樣品安裝至老化測試架，連接測試儀器并設(shè)置初始參數(shù)；隨后，開啟電源，開始通電運(yùn)行，并通過數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)實(shí)時監(jiān)控各項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo)；在檢測過程中，每隔一定時間（如每1小時、每12小時）記錄一次數(shù)據(jù)，如電流變化、電壓波動、溫度上升情況等；若發(fā)現(xiàn)某項(xiàng)參數(shù)超出預(yù)設(shè)閾值（如電流驟升、電壓跌落、功能異常），系統(tǒng)將自動報警并記錄故障信息。檢測結(jié)束后，對所有采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，判斷產(chǎn)品是否通過測試。對于未通過的產(chǎn)品，需進(jìn)行故障定位與原因分析，必要時返修或淘汰。

常溫老煉檢測標(biāo)準(zhǔn)

常溫老煉檢測的實(shí)施需依據(jù)國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以確保檢測過程的規(guī)范性與結(jié)果的可比性。主要參考標(biāo)準(zhǔn)包括：GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》、IEC 60068-2-1/2《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法》、SJ/T 11382-2017《電子元器件老化篩選通用規(guī)范》以及企業(yè)內(nèi)部質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)。其中，SJ/T 11382-2017明確提出了常溫老煉的適用范圍、條件、時間要求及合格判定準(zhǔn)則，是電子元器件行業(yè)廣泛應(yīng)用的權(quán)威指導(dǎo)文件。此外，軍工、航空航天、汽車電子等領(lǐng)域還可能依據(jù)GJB 150A-2009、ISO 16750、AEC-Q100等更高要求的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行更為嚴(yán)格的常溫老煉程序。