游離硅檢測(cè)概述
游離硅檢測(cè)是指對(duì)環(huán)境中或材料中未結(jié)合狀態(tài)的硅元素(通常以二氧化硅顆粒或粉塵形式存在)進(jìn)行定量或定性分析的過程。游離硅在自然界廣泛存在,主要來源于工業(yè)活動(dòng)如采礦、建筑、陶瓷制造、半導(dǎo)體生產(chǎn)" />

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