溫度對最小靜重負(fù)荷輸出的影響檢測
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發(fā)布時間:2025-07-26 17:24:42 更新時間:2025-07-25 17:24:43
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
溫度對最小靜重負(fù)荷輸出的影響檢測
在精密稱重、傳感器校準(zhǔn)及力值計量領(lǐng)域,最小靜重負(fù)荷輸出(通常指在空載或接近空載狀態(tài)下,設(shè)備的輸出信號)的穩(wěn)定性至關(guān)重要。環(huán)境溫度是影響該輸出值的關(guān)鍵因素之一。溫度變化會導(dǎo)" />
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發(fā)布時間:2025-07-26 17:24:42 更新時間:2025-07-25 17:24:43
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
在精密稱重、傳感器校準(zhǔn)及力值計量領(lǐng)域,最小靜重負(fù)荷輸出(通常指在空載或接近空載狀態(tài)下,設(shè)備的輸出信號)的穩(wěn)定性至關(guān)重要。環(huán)境溫度是影響該輸出值的關(guān)鍵因素之一。溫度變化會導(dǎo)致傳感器內(nèi)部敏感元件的材料屬性(如彈性模量、熱膨脹系數(shù))發(fā)生變化,并可能引起電路中的電子元件(如電阻、半導(dǎo)體元件)特性漂移,最終表現(xiàn)為輸出信號的漂移或波動。這種溫度依賴性直接影響設(shè)備的零點(diǎn)穩(wěn)定性、長期重復(fù)性和測量精度。為了評估設(shè)備在實(shí)際使用溫度范圍內(nèi)的性能可靠性和符合性,系統(tǒng)地檢測“溫度對最小靜重負(fù)荷輸出的影響”是必不可少的。這項(xiàng)檢測的核心目標(biāo)是量化設(shè)備在給定溫度變化下,其最小靜重負(fù)荷輸出偏離初始值(通常指在標(biāo)準(zhǔn)參考溫度下)的程度。
本檢測的核心項(xiàng)目包括:
1. 溫度適應(yīng)性/零點(diǎn)溫度影響: 在規(guī)定的高溫和低溫極限溫度下,測量并記錄設(shè)備的最小靜重負(fù)荷輸出相對于參考溫度(通常為20°C)下輸出值的變化量(通常以滿量程的百分比或絕對單位表示)。
2. 零點(diǎn)溫度漂移: 記錄在溫度以恒定速率變化(升溫和降溫)過程中,最小靜重負(fù)荷輸出隨時間/溫度變化的軌跡,評估其漂移特性和滯后效應(yīng)。
3. 溫度回差: 比較設(shè)備從低溫升到高溫極限再返回參考溫度,以及從高溫降到低溫極限再返回參考溫度的過程中,在參考溫度點(diǎn)最小靜重負(fù)荷輸出的差異。這反映了溫度循環(huán)后零點(diǎn)恢復(fù)原狀的能力。
4. 溫度穩(wěn)定性: 在恒定的極限溫度下保持一段時間,觀察最小靜重負(fù)荷輸出是否隨時間發(fā)生緩慢變化(蠕變效應(yīng)在溫度下的表現(xiàn))。
執(zhí)行該檢測需要以下關(guān)鍵儀器和設(shè)備:
1. 高精度溫控試驗(yàn)箱/氣候室: 能夠精確控制和穩(wěn)定目標(biāo)溫度(通常范圍至少覆蓋-10°C至+50°C,或更寬范圍如-40°C至+85°C,視設(shè)備規(guī)格而定),溫度均勻性和穩(wěn)定性需滿足檢測要求(如波動度≤±0.5°C,均勻度≤1.0°C)。需具備程序控制功能以實(shí)現(xiàn)溫變速率控制和溫度循環(huán)。
2. 高精度數(shù)字萬用表或數(shù)據(jù)采集系統(tǒng): 用于連續(xù)或定時采集設(shè)備的最小靜重負(fù)荷輸出信號(如模擬電壓、電流或數(shù)字輸出)。其分辨率、精度和采樣速率需遠(yuǎn)高于被測設(shè)備的預(yù)期漂移量。
3. 標(biāo)準(zhǔn)參考設(shè)備/高穩(wěn)定電源(如適用): 為被測設(shè)備提供穩(wěn)定的激勵電壓(如果設(shè)備需要外部激勵)。
4. 計算機(jī)與數(shù)據(jù)記錄軟件: 用于控制數(shù)據(jù)采集設(shè)備、記錄溫度箱內(nèi)實(shí)際溫度以及被測設(shè)備的輸出信號,并進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲和分析。
5. 標(biāo)準(zhǔn)砝碼(用于驗(yàn)證與靜重?zé)o關(guān),可選): 在檢測前后或特定溫度點(diǎn),用于快速驗(yàn)證設(shè)備在負(fù)載下的基本功能是否正常,排除因測量系統(tǒng)本身故障導(dǎo)致的異常輸出。
6. 精密溫度計/溫度傳感器: 放置在溫控箱內(nèi)被測設(shè)備附近,用于監(jiān)測并記錄設(shè)備實(shí)際所處的環(huán)境溫度。
典型的檢測步驟如下(具體參數(shù)需根據(jù)被測設(shè)備規(guī)格和檢測標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定):
1. 預(yù)處理與穩(wěn)定: 將被測設(shè)備正確安裝在溫控箱內(nèi),連接好測量線路。在參考溫度(如20°C±1°C或規(guī)定溫度)下充分穩(wěn)定(通?!?小時),記錄穩(wěn)定的最小靜重負(fù)荷輸出值(Vref)。確保設(shè)備處于空載狀態(tài)。
2. 溫度循環(huán)測試:
a. 升溫階段: 以規(guī)定速率(如1°C/min或5°C/min)將溫控箱從參考溫度升至高溫極限(如+50°C或+70°C)。
b. 高溫保溫: 在高溫極限溫度下保持規(guī)定時間(如≥2小時),記錄保溫期間的輸出值(Vhigh)及漂移情況。
c. 降溫階段: 以規(guī)定速率降溫至低溫極限(如-10°C或-40°C)。
d. 低溫保溫: 在低溫極限溫度下保持規(guī)定時間(如≥2小時),記錄保溫期間的輸出值(Vlow)及漂移情況。
e. 回溫階段: 以規(guī)定速率升溫回到參考溫度。
f. 參考點(diǎn)恢復(fù): 在參考溫度下再次充分穩(wěn)定(如≥2小時),記錄恢復(fù)后的輸出值(Vfinal)。
3. 數(shù)據(jù)記錄與分析: 在整個過程中(尤其是溫度變化階段和保溫階段),持續(xù)或定時記錄溫控箱內(nèi)實(shí)際溫度(T)和被試設(shè)備的最小靜重負(fù)荷輸出(V)。計算:
- 高溫點(diǎn)零點(diǎn)溫度影響: (Vhigh - Vref) / Full Scale * 100% 或 絕對變化量 (Vhigh - Vref)
- 低溫點(diǎn)零點(diǎn)溫度影響: (Vlow - Vref) / Full Scale * 100% 或 絕對變化量 (Vlow - Vref)
- 溫度回差: | (Vfinal - Vref) | / Full Scale * 100% 或 絕對變化量 |Vfinal - Vref|
- 繪制輸出值(V)隨溫度(T)和時間變化的曲線圖,分析漂移速率、滯后效應(yīng)等。
4. 特定點(diǎn)測試(可選): 可在多個特定溫度點(diǎn)(如0°C, 25°C, 40°C)進(jìn)行保溫測試,記錄各點(diǎn)穩(wěn)定輸出值,繪制輸出-溫度曲線。
該檢測應(yīng)遵循的國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)主要包括:
1. OIML (國際法制計量組織) R76: 《非自動衡器》: 對衡器的溫度適應(yīng)性有明確要求和試驗(yàn)方法,包括溫度對空載(零點(diǎn))的影響測試。
2. GB/T 7551-2008 《稱重傳感器》 (中國國家標(biāo)準(zhǔn)): 規(guī)定了稱重傳感器的溫度試驗(yàn)方法,特別是“零點(diǎn)溫度影響”、“溫度對最小靜負(fù)荷輸出影響”等測試項(xiàng)目,詳細(xì)說明了測試條件和計算方法。
3. JJG 1036-2008 《電子天平》計量檢定規(guī)程 (中國國家計量檢定規(guī)程): 規(guī)定了電子天平在溫度試驗(yàn)中對示值誤差(包含零點(diǎn)變動)的要求和檢定方法。
4. IEC 60751:2008 《工業(yè)鉑電阻溫度計和鉑溫度傳感器》 (雖然針對溫度傳感器,但其溫度測試方法常被借鑒): 提供了高精度溫度測試的環(huán)境控制、穩(wěn)定判定等通用方法學(xué)參考。
5. 制造商技術(shù)規(guī)范/產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn): 設(shè)備制造商通常會根據(jù)產(chǎn)品等級和應(yīng)用場景,在自身技術(shù)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定更具體的溫度影響指標(biāo)限值和測試條件(如溫變速率、保溫時間、允差范圍等),這是執(zhí)行檢測的重要依據(jù)。
進(jìn)行檢測時,必須嚴(yán)格依據(jù)選定的標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)規(guī)范中規(guī)定的溫度范圍、溫變速率、保溫時間、允差限值以及數(shù)據(jù)處理方法來執(zhí)行,確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。報告需清晰呈現(xiàn)原始數(shù)據(jù)、計算結(jié)果、與標(biāo)準(zhǔn)要求的符合性判定。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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