抗擾度測(cè)試(Immunity Testing)是電磁兼容性(EMC)測(cè)試的關(guān)鍵組成部分,旨在評(píng)估電子設(shè)備在外部電磁干擾環(huán)境下的性能和可靠性。隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,設(shè)備面臨的環(huán)境干擾日益復(fù)雜,包括靜電放電、射頻輻射、電源波動(dòng)等,這" />

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