耐退磁檢測
耐退磁性能是指永磁材料或器件在受到外部不利因素(如高溫、強(qiáng)反向磁場、劇烈振動、溫度循環(huán)等)作用時,抵抗其自身磁性能(尤其是剩磁Br和矯頑力Hc)發(fā)生不可逆衰減的能力。這項(xiàng)性能對于依賴穩(wěn)定磁場工作的設(shè)備至關(guān)重要,例如在電機(jī)(特別是新能源汽車驅(qū)動電機(jī))、發(fā)電機(jī)、揚(yáng)聲器、磁傳感器、磁力耦合器、磁選設(shè)備以及醫(yī)療成像設(shè)備(如MRI)等領(lǐng)域。磁體的意外退磁會導(dǎo)致設(shè)備性能下降、效率降低、噪音增大甚至完全失效。因此,耐退磁檢測是評估永磁材料質(zhì)量和元器件設(shè)計(jì)可靠性的核心環(huán)節(jié),貫穿于材料研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)量控制、器件選型及產(chǎn)品壽命評估全過程。
檢測項(xiàng)目
耐退磁檢測的核心是評估磁體在特定應(yīng)力作用前后磁性能的變化情況,主要檢測項(xiàng)目包括:
- 剩磁保持率 (Remanence Retention Rate):退磁應(yīng)力作用后剩磁 (Br) 與初始剩磁 (Br_initial) 的百分比 (Br_post/Br_initial * 100%)。這是最直觀衡量耐退磁能力的指標(biāo)。
- 矯頑力變化率 (Coercivity Change Rate):退磁應(yīng)力作用后矯頑力 (HcJ 或 HcB) 與初始矯頑力的百分比變化。矯頑力下降表明磁體抵抗反向磁場退磁的能力減弱。
- 最大磁能積變化率 (BHmax Change Rate):退磁應(yīng)力作用后最大磁能積 (BH)max 與初始值的百分比變化,綜合反映磁體能量存儲能力的變化。
- 開路磁通衰減 (Open Circuit Flux Loss):磁體在開路狀態(tài)下(無外部磁路),經(jīng)退磁應(yīng)力后其表面特定位置磁通密度的絕對衰減量或衰減百分比。
- 不可逆損失 (Irreversible Loss):特指在溫度因素作用下,磁體冷卻回室溫后無法恢復(fù)的那部分磁通損失。
檢測儀器
進(jìn)行耐退磁檢測需要一系列專業(yè)儀器,核心設(shè)備包括:
- 磁滯回線測量儀 (Hysteresisgraph / B-H Tracer):這是最根本的設(shè)備,用于在施加退磁應(yīng)力前后精確測量磁體的完整磁滯回線,從而得到 Br, HcJ, HcB, (BH)max 等關(guān)鍵參數(shù)。根據(jù)磁體形狀和尺寸,配備相應(yīng)的電磁鐵或超導(dǎo)磁體、以及探測線圈或霍爾探頭。
- 亥姆霍茲線圈 + 磁通計(jì) (Helmholtz Coil + Fluxmeter):用于測量磁體在開路狀態(tài)下的總磁通量。將待測磁體置于已知常數(shù)的亥姆霍茲線圈中心,通過磁通計(jì)測量線圈中感應(yīng)電動勢的積分值,計(jì)算總磁通,常用于磁通衰減測試。
- 高斯計(jì)/特斯拉計(jì) (Gaussmeter/Teslameter):配備橫向或軸向霍爾探頭,直接測量磁體表面特定點(diǎn)的磁通密度 (B),用于快速評估開路磁通衰減。
- 高溫環(huán)境試驗(yàn)箱 (High-Temperature Environmental Chamber):用于模擬高溫退磁環(huán)境,需具備精確的溫度控制和均勻性。
- 溫度沖擊試驗(yàn)箱 (Thermal Shock Chamber):用于進(jìn)行溫度循環(huán)(冷熱沖擊)試驗(yàn)。
- 振動試驗(yàn)臺 (Vibration Test System):用于模擬不同頻率、加速度的機(jī)械振動環(huán)境。
- 反向磁場施加裝置:通常集成在磁滯回線儀中,或使用獨(dú)立的電磁鐵/脈沖磁體,用于施加特定強(qiáng)度的反向直流或脈沖磁場。
檢測方法
耐退磁檢測是模擬實(shí)際工況或加速老化條件下的測試,主要方法有:
- 高溫暴露法 (High-Temperature Exposure):
- 測量磁體初始磁性能(如 Br, HcJ, 開路磁通)。
- 將磁體置于預(yù)定高溫(如磁體最高工作溫度或更高)的環(huán)境試驗(yàn)箱中,保持規(guī)定時間(數(shù)小時至數(shù)百小時)。
- 將磁體冷卻至室溫(通常需靜置足夠時間消除溫度滯后影響)。
- 再次測量磁性能,計(jì)算各項(xiàng)保持率或衰減率。
- 溫度循環(huán)法 (Thermal Cycling):
- 測量初始磁性能。
- 將磁體在設(shè)定的高溫(T_high)和低溫(T_low)之間進(jìn)行多次循環(huán)(如 -40°C ? +150°C,循環(huán)數(shù)百次)。高低溫轉(zhuǎn)換速率和保溫時間按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
- 循環(huán)結(jié)束后,恢復(fù)至室溫。
- 測量最終磁性能,計(jì)算損失。
- 反向磁場法 (Reverse Magnetic Field):
- 測量初始磁性能(通常測磁滯回線)。
- 將磁體置于能產(chǎn)生均勻反向磁場的裝置(電磁鐵)中。
- 施加預(yù)定強(qiáng)度(通常接近或略高于磁體標(biāo)稱 HcJ)的反向直流磁場,保持一定時間。
- 撤去反向場。
- 再次測量磁性能,計(jì)算退磁百分比(特別是 Br 保持率)。
- 振動法 (Vibration Test):
- 測量初始磁性能(常用開路磁通)。
- 將磁體固定在振動臺上,按規(guī)定的頻率范圍、加速度幅值、振動方向和時間進(jìn)行掃頻或定頻振動試驗(yàn)。
- 試驗(yàn)結(jié)束后,測量磁性能,評估振動引起的磁通衰減。
- 綜合應(yīng)力法 (Combined Stress):結(jié)合上述兩種或多種應(yīng)力(如高溫+振動、高溫+反磁場)進(jìn)行試驗(yàn),更貼近實(shí)際嚴(yán)苛工況。
無論采用哪種方法,測試前后磁體的狀態(tài)(溫度、放置方向、測量位置和夾具)必須保持一致,測量環(huán)境(溫度、濕度)也需嚴(yán)格控制。
檢測標(biāo)準(zhǔn)
耐退磁檢測需遵循相關(guān)的國際、國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),確保測試的一致性和可比性,常用標(biāo)準(zhǔn)包括:
- IEC 60404-5 / GB/T 3217:永磁(硬磁)材料磁性能的測量方法標(biāo)準(zhǔn),是基礎(chǔ)磁性能測量的核心依據(jù)。
- IEC 60068-2-2 / GB/T 2423.2:環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫。規(guī)定了高溫試驗(yàn)的條件。
- IEC 60068-2-14 / GB/T 2423.22:環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化。適用于溫度循環(huán)試驗(yàn)。
- IEC 60068-2-6 / GB/T 2423.10:環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(正弦)。規(guī)定了振動試驗(yàn)的方法。
- IEC 60404-8-1:磁性材料 第8-1部分:單項(xiàng)材料規(guī)范:硬磁材料。其中可能包含特定材料(如釹鐵硼、鐵氧體)的耐溫性能要求。
- SAE J1797:永磁體退磁測試程序的推薦規(guī)程。汽車行業(yè)常用。
- 各公司/行業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn):許多電機(jī)、電聲器件制造商或行業(yè)協(xié)會會制定更具體、更嚴(yán)苛的內(nèi)部耐退磁測試規(guī)范,以滿足其產(chǎn)品的特定可靠性要求。
執(zhí)行檢測時,必須嚴(yán)格按照選定標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的試樣制備、試驗(yàn)條件(應(yīng)力類型、強(qiáng)度、時間)、測量程序以及數(shù)據(jù)處理方法來操作,并在報(bào)告中明確標(biāo)注所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)。
CMA認(rèn)證
檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書
證書編號:241520345370
有效期至:2030年4月15日
CNAS認(rèn)可
實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書
證書編號:CNAS L22006
有效期至:2030年12月1日
ISO認(rèn)證
質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書
證書編號:ISO9001-2024001
有效期至:2027年12月31日