x射線光電子能譜
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發(fā)布時間:2025-04-16 08:21:49 更新時間:2025-04-15 08:23:10
點擊:313
作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
 
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X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)是一種基于光電效應的表面分析技術,通過測量材料表面被X射線激發(fā)出的光電子能量,獲取元素的種類、化學態(tài)、分布及含量等信息。其探測深度通常為1-10納米,是研究材料表面特性的重要工具。
元素成分分析
化學態(tài)與價態(tài)分析
表面元素分布
定量分析
污染物與吸附物檢測
化學態(tài)成像(Chemical Mapping)
價帶與能帶結構分析
XPS通過高靈敏度的表面成分與化學態(tài)分析,成為材料科學、納米技術及工業(yè)質檢中的關鍵手段。其多維度檢測能力(元素、化學態(tài)、分布)為理解材料表面特性提供了不可替代的數據支持,尤其在研發(fā)新型功能材料與解決工藝失效問題時具有重要價值。
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                證書編號:241520345370
 
                證書編號:CNAS L22006
 
                證書編號:ISO9001-2024001
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

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