1

低溫試驗

GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

2

高溫試驗

GB/T 2423.2-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

3

恒定濕熱試驗

GB/T 2423.3-2016

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

4

溫度濕度組合循環(huán)

GB/T 2423.34-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗

5

溫度變化

GB/T 2423.22-2012

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度變化

6

寬帶隨機振動

GB/T 2423.56-2018

環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動：寬帶隨機振動和導則

7

亮度

GB/T 18910.61-2012

液晶顯示器件 第6-1部分：液晶顯示器測試方法 光電參數(shù)

8

掃描電子顯微技術和電子束顯微分析

GB/T 16594-2008

微米級長度的掃描電鏡測量方法通則

9

掃描電子顯微技術和電子束顯微分析

GB/T 20307-2006

納米級長度的掃描電鏡測量方法通則

10

掃描電子顯微技術和電子束顯微分析

JY/T 0584-2020

分析型掃描電子顯微鏡方法通則標準