標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 14849.10-2016

　　中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第10部分：汞含量的測定 原子熒光光譜法

　　英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 10：Determination of mercury content—Atomic fluorescence spectrometry method

　　標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

　　中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：(CCS)H12

　　國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：(ICS)77.120.10

　　發(fā)布日期：2016-08-29

　　實施日期：2017-07-01

　　主管部門：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會

　　歸口單位：有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

　　發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

主要起草單位

　　昆明冶金研究院 、北京有色金屬研究總院 、北京礦冶研究總院 、云南永昌硅業(yè)股份有限公司 、 (天津)有限公司 、云南祥云飛龍再生科技股份有限公司 、云南出入境檢驗檢疫局 、廣州有色金屬研究院 。

主要起草人

　　劉英波 、羅舜 、楊毅 、陳殿耿 、王立 、唐飛 、楊琛 、段坤艷 、滕亞君 、周杰 、楊海岸 、趙德平 、劉維理 、陳映純 、蒯麗君 、程堆強(qiáng) 、麥麗碧 。

相近標(biāo)準(zhǔn)(計劃)

　　20140936-T-610 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第10部分：汞含量的測定 原子熒光光譜法

　　YS/T 872-2013 工業(yè)鎵化學(xué)分析方法 汞含量的測定 原子熒光光譜法

　　20082091-T-610 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分：元素含量的測定 X射線熒光光譜法

　　20121952-T-610 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分：雜質(zhì)元素含量的測定 X射線熒光光譜法

　　GB/T 14849.5-2014 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分：雜質(zhì)元素含量的測定 X射線熒光光譜法

　　20102234-T-610 鉬化學(xué)分析方法 第6部分：砷量的測定 原子熒光光譜法

　　20102237-T-610 鉬化學(xué)分析方法 第5部分：銻量的測定 原子熒光光譜法

　　20102241-T-610 鉬化學(xué)分析方法 第4部分：錫量的測定 原子熒光光譜法

　　20102219-T-610 鉬化學(xué)分析方法 第3部分：鉍量的測定 原子熒光光譜法

　　GB/T 4325.4-2013 鉬化學(xué)分析方法 第4部分：錫量的測定 原子熒光光譜法

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