電子元器件篩選
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發(fā)布時(shí)間:2024-05-21 08:15:32 更新時(shí)間:2025-06-09 16:18:40
點(diǎn)擊:144
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
元器件生產(chǎn)方所開展的一次篩選的項(xiàng)目與應(yīng)力條件很難完全滿足裝備研制的需要;而進(jìn)口的元器件中經(jīng)常出現(xiàn)工業(yè)級或中低檔產(chǎn)品,甚至存在假冒偽劣產(chǎn)品的風(fēng)險(xiǎn),難以保證電子設(shè)備的質(zhì)量和可靠性。
產(chǎn)品范圍:
電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧振器;繼電器;半導(dǎo)體分立器件(二極管、三極管、場效應(yīng)管、達(dá)林頓陣列、半導(dǎo)體光電子器件等);電連接器;開關(guān)及面板元件;半導(dǎo)體集成電路(時(shí)基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片(穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(A/D、D/A、SRD)、存儲器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等);濾波器;電源模塊;IGBT等。
測試項(xiàng)目 | 測試方法 |
外觀檢查 | GJB128 、GJB548等 |
電性能測試: 常溫測試/高溫測試/低溫測試 |
GB或GJB測試方法 GJB33、GJB63、GJB65、GJB1042、GJB1432、GJB1648、GJB2438、GJB2138、GJB597、 …… |
環(huán)境/機(jī)械應(yīng)力檢測: 掃頻/隨機(jī)振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封(粗檢漏、細(xì)檢漏) 、粒子碰撞噪聲檢測(PIND) |
GJB360、GJB128 、GJB548、 GJB33、GJB63、GJB65、GJB1042、GJB1432、GJB1648、GJB2438、GJB2138、GJB597、 …… |
壽命/老化/老煉 | GJB360、GJB128、GJB548 |
芯片粘接的超聲檢測 | GJB548 |
X射線照相 | GJB360、GJB128、GJB548 |
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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