為了確認(rèn)并排除早期故障，使真實(shí)產(chǎn)品的可靠性接近設(shè)計(jì)的理想水平，通常在實(shí)踐中我們會(huì)引入環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS—Environment Stress Screen)來(lái)進(jìn)行分析。所謂環(huán)境應(yīng)力篩選，是指在環(huán)境應(yīng)力條件下暴露設(shè)備的薄弱環(huán)節(jié)和工藝缺陷，以便加以糾正而專門設(shè)計(jì)的一種試驗(yàn)方法。
ESS一般分為常規(guī)篩選和定量篩選。
1， 常規(guī)篩選，是指不要求篩選結(jié)果與產(chǎn)品可靠性目標(biāo)和成本閥值建立定量關(guān)系的篩選。篩選方法憑經(jīng)驗(yàn)確定，以篩選出早期失效為目標(biāo);
2， 定量篩選，是指要求篩選結(jié)果與產(chǎn)品可靠性目標(biāo)和成本閥值建立定量關(guān)系的篩選。引入的主要變量包括缺陷密度、篩選檢出度、析出量或殘留缺陷密度。其核心是實(shí)現(xiàn)最經(jīng)濟(jì)有效的篩選方式。
目前國(guó)內(nèi)企業(yè)廣泛開(kāi)展的是常規(guī)篩選。
ESS的試驗(yàn)對(duì)象，為元器件和各個(gè)組裝等級(jí)，下面介紹組件級(jí)和單元級(jí)的優(yōu)缺點(diǎn)及可篩選出的主要缺陷。
1. 組件級(jí)
優(yōu)點(diǎn)：尺寸小，不通電測(cè)試，成本低;熱慣性小，溫度變化率較高;能進(jìn)行比單元級(jí)的溫度變化幅度更大的篩選，篩選效率高。
缺點(diǎn)：不通電導(dǎo)致尋找故障效率低;如要通電檢測(cè)，則需專門測(cè)試設(shè)備，成本將增加;無(wú)法篩選單元級(jí)、系統(tǒng)級(jí)引入的缺陷。
缺陷：漏檢的元器件缺陷;元器件和電路板焊接點(diǎn)分離;焊接缺陷;參數(shù)漂移、超出容差。
2. 單元級(jí)及以上組裝級(jí)
優(yōu)點(diǎn)：因?yàn)椴恍枰獙ｉT設(shè)計(jì)檢測(cè)系統(tǒng)，篩選期間易進(jìn)行通電和檢測(cè)，檢測(cè)效率高;單元中各級(jí)間的接口也能得到篩選;能篩選出各種類型的潛在缺陷;能發(fā)現(xiàn)某些設(shè)計(jì)缺陷。
缺點(diǎn)：熱慣性大，溫度變化速率小，溫度循環(huán)時(shí)間需加長(zhǎng);要考慮多種元部件的溫度極限，篩選溫度變化幅度減小，篩選率降低;成本高。
缺陷：組件級(jí)的連接缺陷;導(dǎo)線連接缺陷;輸入/輸出連接缺陷;單元內(nèi)部電纜缺陷;組裝中使用了以前未經(jīng)篩選組件(如采購(gòu)的組件等)引入的缺陷。
小結(jié)：理論上應(yīng)當(dāng)對(duì)各個(gè)組裝等級(jí)進(jìn)行逐級(jí)ESS，實(shí)際工作中則要權(quán)衡技術(shù)和成本等各方面因素，結(jié)合產(chǎn)品確定最佳的篩選方案。如果根據(jù)產(chǎn)品使用情況和其他試驗(yàn)信息得知故障主要出現(xiàn)在某一組裝等級(jí)，則可僅針對(duì)該組裝等級(jí)進(jìn)行ESS。通常較為實(shí)用的方法是對(duì)組件進(jìn)行溫度循環(huán)篩選，對(duì)單元以上等級(jí)進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。
CMA認(rèn)證
檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書
證書編號(hào)：241520345370
有效期至：2030年4月15日
CNAS認(rèn)可
實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書
證書編號(hào)：CNAS L22006
有效期至：2030年12月1日
ISO認(rèn)證
質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書
證書編號(hào)：ISO9001-2024001
有效期至：2027年12月31日
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